Keysight E6607C EXT Multiport Wireless Communications Test Set

Home > Wireless Communications Tester > WIFI Integrated Tester > Keysight E6607C EXT Multiport Wireless Communications Test Set
[Return Home] [Go Back]

Keysight E6607C EXT Multiport Wireless Communications Test Set

Product Abstract:

LTE W-CDMA cdma2000 GSM WiMAXTM Bluetooth GPS/GNSS

Product Description

 

Name: Keysight E6607C EXT Multiport Wireless Communications Test Set

Model Number: E6607C

Parameter: LTE W-CDMA cdma2000 GSM WiMAXTM Bluetooth ® GPS/GNSS

Brand: AgilentHP\Keysight

 

Detailed Description:

Integrated Multiport enables efficient Multi-DUT test:
1) Integrated multiport provides for parallel receiver test / fast switched transmitter test making effective use of test equipment resources;
2) Lower cost, smaller footprint, lower power consumption verses use of external multiport adapter;
3) Fully compatible with software written for E6607A / E6607B for seamless integration in manufacturing;
4?Add external display, mouse, and keyboard, for full manual control and functionality equivalent to E6607B & MPA;

Anticipate your wireless device manufacturing test needs:
1) Benefit from an architecture that is optimized for lower-cost next generation non-signaling test;
2) Add multi-format standards-based calibration and verification test support as needed for LTE TDD/FDD, HSPA+, W-CDMA, 1xEV-DO, cdma2000®, GSM, EDGE-Evo, TD-SCDMA, WiMAXTM, Bluetooth®, GPS/GNSS, and more;
3) Ensure your test system is future proof due to its modern, scalable architecture;

Accelerate test development:
1) Ensure seamless transition from NPI to production with proven X-Series analyzer measurements science;
2) Simplify signal creation to synchronize, control, and test your wireless device with Signal Studio software;
3) Streamline test plan creation and troubleshooting in a graphical interface with Sequence Studio software;
4) Reduce time to volume manufacturing with Chipset Software to optimize device calibration and verification;

Achieve fast and accurate measurements:
1) Maximize throughput with fast-sequenced, non-signaling test modes for modern chipsets;
2) Speed up your test plan in sequence analyzer mode with single acquisition, multiple measurements;
3) Increase your production yield with superior measurement accuracy;
4) Cost effective integrated Multiport Adapter with metrology grade precision and balancing;

Related Products

Contact Us


?????????